Начало
Новини
Превод
Проект
Форум
Помощ
Членове
Вход
Регистрирайте се
. .
•Профил
kazandibi00
•Всички преводи
▪▪Желани преводи
•
Любими преводи
•Списък с проекти
•Входящи
▪Безплатен езиков обмен
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
▪▪Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Всички преводи
Търсене
Желани преводи - kazandibi00
Търсене
Език, от който се превежда
Желан език
Резултати 1 - 2 от около 2
1
411
Език, от който се превежда
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Завършени преводи
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1